實驗室建設
供應商審廠服務
產線現場改善
PCBA線路板失效分析
電子產品失效分析
PCB失效分析
電子元器件檢測/失效分析
環境試驗
PCB板評價測試
老化測試
精密制樣
形貌觀察與測量
異物成份分析
電學性能測試
公司動態
業界新聞
技術動態
闊智介紹
企業文化
發展歷程
聯合實驗室
虛焊分析
上錫不良分析
電子元器件異常分析
PCB/PCBA孔不通不良分析
燒損失效分析
信號異常失效分析
離子遷移(CAF)失效分析
短路不良解析
開路不良解析
地址:廣州市南沙區市南路230號樂天云谷產業園2棟101
電話:18098907454 / 020-39004500
郵箱:jinkh@qualtec.com.cn
1
信號異常為功能失效最常見的一種,例如產品的開關機異常,按鍵失效,穩定性差等。
PCB設計和制作過程有20道工序之多,電路板上錫不良可能導致諸如線路沙孔、崩線、線路狗牙、開路、線路沙孔幼線;孔銅薄嚴重則成
用于評價鍍層是否合格及異常現象
PCB(印制電路板)的次品分析中,PCB的網絡線路常因開路而導致失效。即導通不良,為解決失效問題,需對導致網絡線路開路的原因進行分析,目前常規的做法均是采用測試裝置對不同的接觸電極
某些元器件持續大量散熱、電流多大、短路等原因都有可能造成pcb線路板燒斷。
Copyright ? 2019 闊智科技(廣州)有限公司 版權所有 Powered by EyouCms 粵ICP備19025047號-1 站點地圖